EDS成分分析
X射线能谱法（EDS）是用于样品分析和表征的分析技术，通常配合扫描电子显微镜（SEM）与透射电子显微镜（TEM）使用，用于对材料微区成分元素种类与含量进行分析。利用电子束与物质作用时产生的特征X射线，提供样品化学组成方面的信息，可定性、半定量检测大部分元素（Be⁴-Pu⁹⁴），可进行表面污染物的分析。德恺检测提供EDS点分析、面分析、线分析服务。
实验原理
在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣的部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。
EDS优点
- 分析速度快、效率高，能同时测定原子序数在11—92之间的所有元素（甚至C、N、O等超轻元素）
- 稳定性好、重复性好
- 能用于粗糙表面的成分分析（断口等）
- 能对材料中的成分偏析进行测量
EDS分析类型
| 分析类型 | 说明 |
|---|---|
| 定性分析 | 通过谱峰位置鉴别样品中所含元素，分为自动定性分析和手动定性分析 |
| 定量分析 | 通过X射线强度获取元素浓度，最广泛使用的定量修正技术是ZAF修正 |
| 面分布分析 | 电子束做二维扫描，测量特征X射线强度，显示元素二维分布图像 |
关于深圳德恺
深圳德恺检测作为专业的第三方检测机构，具备CNAS/CMA双认可资质，配备扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS），可为企业提供材料微区成分的元素定性分析、定量分析及面分布分析服务，适用于断口表面污染物分析、材料成分偏析测量等，助力失效分析与材料研究。
欢迎联系德恺检测专业工程师，提供样品类型及分析需求，我们将为您定制最优的EDS成分分析方案并给出精准报价。