扫描电镜SEM观察
扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段，利用聚焦的很窄的高能电子束扫描样品，通过光束与物质间的相互作用激发各种物理信息，收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式SEM分辨率可达1nm，放大倍数可达30万倍及以上连续可调，景深大、视野大、成像立体效果好。德恺检测提供扫描电镜观察与EDS联用分析服务。
SEM观察应用
| 应用领域 | 说明 |
|---|---|
| 三维形貌观察 | 高分辨率观察材料表面微观形貌，立体感强 |
| 纳米材料观察 | 观察组成颗粒或微晶尺寸在0.1~100nm范围内的材料 |
| 材料断口分析 | 深层次、高景深呈现材料断裂本质，分析断裂原因 |
| 大试样原始表面观察 | 直接观察直径100mm、高50mm或更大尺寸试样，无需制样 |
| 微区成分分析 | 配合EDS进行成分分析（点扫描、线扫描、面扫描） |
基本原理
电子枪发射电子束经聚焦后汇聚成点光源，在加速电压下形成高能电子束，经两个电磁透镜聚焦成直径微小的光点，以光栅状扫描方式逐点轰击样品表面，激发出不同深度的电子信号（二次电子、背散射电子、俄歇电子、X射线等），被接收器接收后传送到显示屏形成实时成像。
关于深圳德恺
深圳德恺检测作为专业的第三方检测机构，具备CNAS/CMA双认可资质，配备场发射扫描电子显微镜（SEM-EDS），可为企业提供材料微观形貌观察、断口分析、纳米材料观察等扫描电镜分析服务，配合EDS进行微区成分定性/定量分析，助力材料研究与失效分析。
欢迎联系德恺检测专业工程师，提供样品类型及SEM观察需求，我们将为您定制最优的扫描电镜观察方案并给出精准报价。